シリコンX線ダイオードを使った高機能半導体線量計
シリコンX線ダイオードシリコンX線ダイオード（Si-XD）は X線に特に感度の良いSiフォトダイオードで、フォトンをSi前面から、さらにセラミック基板で散乱されたフォトンをSi背面からも検出できます。Si-XD検出器は同受光面積のテルル化カドミウム（CdTe）と比較して若干感度は低いですが、安価で無害です。
Si-XD検出器 (Si-XD)
X線検出モジュール
X線検出モジュールは電流・電圧（I-V）増幅器、電圧・電圧（V-V）増幅器、高安定直流電源からなります。X線フォトンの吸収によりSi-XDに流れる光電流をI-V増幅器により電圧に変換し、V-V増幅器を用いてさらに増幅します。
Ｘ線検出モジュール（XDM18b）
文献
[1] Sato, Y., Sato, E., Ehara, S., Oda, Y., Hagiwara, O., Matsukiyo, H., Enomoto, T., Watanabe, M., Kusachi, S.: Development of a dual-energy silicon X-ray diode and its application to gadolinium imaging. Radiat Meas 77, 12-17 (2015).
[2] Matsushita, R., Sato, E. , Yanbe, Y., Chiba, H., Maeda, T., Hagiwara,
O., Matsukiyo, H., Osawa, A., Enomoto, T., Watanabe, M., Kusachi, S., Sato,
S., Ogawa, A., Onagawa, J.: Low-dose-rate computed tomography system utilizing
25 mm/s-scan silicon X-ray diode and its application to iodine K-edge imaging
using filtered bremsstrahlung photons. Jpn J Appl Phys 52, 032202-1-5 (2013).
